|
|
Studium beta fáze v Al-Mg-Si slitinách pomocí nekonvenčních metod elektronové mikroskopie
Ligas, Aleš ; Julišová, Martina (oponent) ; Mikmeková, Šárka (vedoucí práce)
Hliníkové Al-Mg-Si slitiny nachází hlavní uplatnění především v automobilovém a stavebním průmyslu. Hexagonální ’ fáze je jednou z fází objevených v tomto typu slitin. Oproti klasické čtvercové -fází se vyznačuje rozdílnou krystalovou orientací vůči matrici a tvarem. Tradiční metodou pro jejich zobrazování je klasická rastrovací elektronová mikroskopie (SEM), navzdory tomu, že v mnoha případech neposkytuje dostatečné informace. Je to rychlé a efektivní, avšak není dostatečnou v případě tenkých nebo poškozených precipitátů v důsledku připravného metalografického procesu. Pozorovat a jednoznačně identifikovat tyto precipitáty by mohla pomoci rastrovací nízkoenergiová elektronová mikroskopie, která díky fyzikálním principům nabízí v porovnání se SEM řadu nezanedbatelných výhod jako jsou zmenšení interakčního objemu, zlepšení materiálového kontrastu i vyšší kontrast krystalografický.
|
|
|
Studium kovových materiálů pomocí nízkonapěťové elektronové mikroskopie
Ligas, Aleš ; Jánský, Pavel (oponent) ; Mikmeková, Šárka (vedoucí práce)
Tato bakalářská práce se zabývá demonstrací výhod metody mikroskopie pomalými elektrony v oblasti materiálových věd. Rastrovací nízkoenergiov elektronová mikroskopie je mimořádně užitečná pro studium celé řady materiálů, jako jsou oceli, slitiny, keramika a tenké vrstvy. Experimentální část bakalářské práce byla provedena na rastrovacím elektronovém mikroskopu TESCAN VEGA TS 5130 vybaveném režimem katodové čočky, který se nachází na Ústavu přístrojové techniky AVČR, v.v.i..
|
|
|
Mikroskopie pomalými elektrony ve studiu složitých krystalických struktur
Mikmeková, Šárka ; Kasl, Josef (oponent) ; Švejcar, Jiří (oponent) ; Frank, Luděk (vedoucí práce)
Pro studium krystalové struktury materiálů se standardně používají metody difrakční (RTG, neutrony, synchrotronové záření), dále difrakce zpětně odražených elektronů, skenovací transmisní elektronová mikroskopie, transmisní elektronová mikroskopie a mikroskopie pomocí fokusovaného iontového svazku. Mikroskopie pomalými elektrony (SLEEM) není stále příliš známou metodou pro studium polykrystalů, a to navzdory tomu, že představuje velmi účinný nástroj pro zobrazení krystalové struktury. Pomocí pomalých elektronů emitovaných ze vzorku a detekovaných v celém úhlovém a energiovém spektru je dosaženo vysokého prostorového rozlišení a velkého kontrastu mezi odlišně orientovanými zrny. Díky vysoké citlivosti metody na distribuci vnitřního potenciálu lze zobrazit strukturní detaily, jako jsou např. subzrna či dvojčata a mapovat vnitřní napětí. Smyslem dizertační práce je demonstrovat metodu SLEEM jako efektivní nástroj pro studium širokého spektra materiálů, jako jsou oceli, neželezné slitiny a ultrajemnozrnné kovy.
|
|
|
Studium beta fáze v Al-Mg-Si slitinách pomocí nekonvenčních metod elektronové mikroskopie
Ligas, Aleš ; Julišová, Martina (oponent) ; Mikmeková, Šárka (vedoucí práce)
Hliníkové Al-Mg-Si slitiny nachází hlavní uplatnění především v automobilovém a stavebním průmyslu. Hexagonální ’ fáze je jednou z fází objevených v tomto typu slitin. Oproti klasické čtvercové -fází se vyznačuje rozdílnou krystalovou orientací vůči matrici a tvarem. Tradiční metodou pro jejich zobrazování je klasická rastrovací elektronová mikroskopie (SEM), navzdory tomu, že v mnoha případech neposkytuje dostatečné informace. Je to rychlé a efektivní, avšak není dostatečnou v případě tenkých nebo poškozených precipitátů v důsledku připravného metalografického procesu. Pozorovat a jednoznačně identifikovat tyto precipitáty by mohla pomoci rastrovací nízkoenergiová elektronová mikroskopie, která díky fyzikálním principům nabízí v porovnání se SEM řadu nezanedbatelných výhod jako jsou zmenšení interakčního objemu, zlepšení materiálového kontrastu i vyšší kontrast krystalografický.
|
|
|
Studium kovových materiálů pomocí nízkonapěťové elektronové mikroskopie
Ligas, Aleš ; Jánský, Pavel (oponent) ; Mikmeková, Šárka (vedoucí práce)
Tato bakalářská práce se zabývá demonstrací výhod metody mikroskopie pomalými elektrony v oblasti materiálových věd. Rastrovací nízkoenergiov elektronová mikroskopie je mimořádně užitečná pro studium celé řady materiálů, jako jsou oceli, slitiny, keramika a tenké vrstvy. Experimentální část bakalářské práce byla provedena na rastrovacím elektronovém mikroskopu TESCAN VEGA TS 5130 vybaveném režimem katodové čočky, který se nachází na Ústavu přístrojové techniky AVČR, v.v.i..
|
|
|
Very low energy STEM for biology
Frank, Luděk ; Nebesářová, Jana ; Vancová, Marie ; Paták, Aleš ; Müllerová, Ilona
Examination of tissue sections with transmitted electrons has been performed at energies of hundreds and tens of eV with thicknesses of sections of 10 nm or less. This was possible by employing the cathode lens principle working without lowest energy limitations with the help of biasing the sample to a high negative potential. The reflected and transmitted electrons were attracted with the same electric field to earthed detectors situated above and below the sample. Very high image contrasts have been obtained even for samples free of any heavy metal salts for contrast enhancement.
|
|
| |
|
|
Transmission mode in scanning low enery electron microscope
Müllerová, Ilona ; Hovorka, Miloš ; Frank, Luděk
We incorporated the cathode lens (CL) principle, well known from the emission microscope, to the SEM in order to operate at very low landing energies. The primary beam electrons of several keV are decelerated to nearly zero energy of landing on the specimen negatively biased to high potential. Reflected electrons are collected on a grounded detector situated above the sample but the same can be done below the sample of a fair transparency for electrons. High collection efficiency and high amplification of both detectors is secured thanks to the cathode lens field. We use a scintillation detector for the reflected mode and a semiconductor structure for the transmitted electron (TE) mode. In this arrangement resolution of few nm is obtainable across the full energy range.
|
|
| |
|
| |
host ::
RSS.